Tin Whisker Acceptance
장비소개휘스커 평가
항온항습기, 온도사이클 장비
요구되는 시험 조건에 따라 항온항습기, 온도사이클 장비 사용
기술 소개
온도변화가 큰 사용자 환경에 대한 신뢰성 평가, 반도체 인증시험 항목
기술 적용
부식과 마이그레이션이라는 불량메커니즘에 대해서 평가하기 위해, 제품을 1)고온, 2)고습, 3)전원 3가지 조건으로 평가하는 합니다. 그러나 마이그레이션이 부식보다 먼저 발생하는 경향이 있으므로 부식에 대한 내성 데이터를 확보하기 어려울 수 있습니다. 따라서 전원조건을 제거하고 1)고온, 2) 고습 조건만으로 부식에 불량메커니즘을 집중적으로 평가할 때 본 시험을 이용합니다.
장비
휘스커 평가 (Tin Whisker Acceptance)
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제작사/ 모델명
요구되는 시험 조건에 따라 항온항습기, 온도사이클 장비 사용
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용도/ USE
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온도변화가 큰 사용자 환경에 대한 신뢰성 평가
반도체 인증시험 항목
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시험소개
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Autoclave 시험 또는 Pressure Cooker Test (PCT)라고 부르며, 고온 고습환경을 제품이 견딜 수 있는지 평가하는 시험입니다. 특히 제품 die metallization과 같은 내부 금속 부식을 가속하는 목적으로 사용합니다. 샘플은 온도121°C와 상대습도 100%, 기압 2atm 상태로 168 h 동안 시험하고, 중간 측정은 48 h, 96 h 에 진행하는 것이 일반적입니다. Autoclave 시험을 진행하는 동안 습도가 최고치에 달하기 때문에 electrical leakage가 발생할 수 있지만 이런 현상을 불량이라고 따로 규정해놓지 않은 상태에서는 불량개수에 포함(count)시키지 않습니다. 부식이나 기타 영구적인 손상만 PCT 불량이라고 정의합니다.
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시험 조건
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Stress Type
Test Conditions
Inspection Interval
Temperature Cycling
-55 +0/-10 °C to 85 +10/-0 °C,
air to air; 10 minute soak;~3 cycles/hour (typ.)500 cycles
-40 +0/-10 °C to 85 +10/-0 °C,
air to air; 10 minute soak;~3 cycles/hour (typ.)Temperature /
Humidity Storage30 ±2 °C and 60 ±3% RH2
1000 hours
High Temperature /
Humidity Storage55 ±3 °C and 85 ±3 RH 3
1000 hours
기술 적용 사례
관련 시험 규격
- JESD201
- JESD22-A121