High Temperature Storage Test
장비소개고온저장시험,
저온저장시험
한백과학 / HB-502M-O
High Temperature Storage Test
기술 소개
특정 온도에서 장시간 보관에 따른 신뢰성 영향 평가, 신뢰성 시험 전처리로 활용
기술 적용
제품이 조립 전 부품 상태로, 또는 조립 후 제품내부의 element 상태로 장시간 고온에 저장될 때, 어떤 영향이 있는지 평가하는 항목입니다.
장비
고온저장시험 (High Temperature Storage Test)
-
- 제작사/ 모델명
-
한백과학 / HB-502M-O
-
- 용도/ USE
-
특정 온도에서 장시간 보관에 따른 신뢰성 영향 평가
신뢰성 시험 전처리로 활용
-
- 장비 사양
-
High Temperature : 최대 300℃
Low Temperature : 최대 -65℃
시험소개
(High Temperature Storage Test)는 제품을 장시간 고온에 보관하는 동안, 어떤 영향을 받는지 평가하는 시험입니다. Electrical stress를 적용하지 않으며, Stabilization Bake (Mil-Std-883 Method 1008) 시험과 유사하지만 HTS 시험이 훨씬 많은 시간을 소요합니다 (Stab Bake:24 h @ 150°C). 또한 Stabilization Bake는 screen 역할이나 다른 시험의 precondition으로 사용하는 반면, HTS는 제품의 long-term reliability (장시간에 대한 신뢰성)를 평가하는 것이 목적입니다. Low Temperature Storage (LTS)시험 역시 동일한 목적의 시험이며 다만, 저온조건을 사용하는 점이 다릅니다.