Memory Endurance and Data Retention Test
장비소개메모리신뢰성 평가
Fusion / FECBIS
Memory Endurance and Data Retention test
기술 소개
비휘발성메모리제품의 동작수명시험, 메모리 읽고, 쓰기, 저장 능력 평가, 반도체 인증시험 항목
기술 적용
메모리 제품은 일반 IC 제품과는 달리 읽고 쓰기의 시간 또는 횟수 등 메모리사용에 대한 보다 특화된 방법으로 평가합니다. 각 제조사마다 나름의 방법으로 수명시험을 진행하고 있으며, 그 중 가장 핵심이 되는 부분이 읽기/쓰기/지우기 반복과 한번 저장된 데이터를 고온, 저온, 그리고 상온에서 얼마나 오랫동안 유지할 수 있는지 평가하는 항목입니다.
장비
메모리신뢰성 평가 (Memory Endurance and Data Retention test)
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- 제작사/ 모델명
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Fusion / FECBIS
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- 용도/ USE
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비휘발성메모리제품의 동작수명시험
메모리 읽고, 쓰기, 저장 능력 평가
반도체 인증시험 항목
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- 장비 사양
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Temperature Range: 50 ~ 150 ℃
Channel : 256
Vector Depth : 4M
시험소개
Non-Volatile Memory Endurance & Retention test란, 1) Endurance Test (쓰기/지우기 반복시험)와 2) Data Retention Test (데이터 유지시험)으로 구성됩니다. Endurance test에서 규정된 횟수 만큼 쓰기, 지우기를 한 후 “Pass”로 판정되면 전체샘플을 반으로 나누어 Retention test하게 되는데, Endurance Test의 경우 써넣을 pattern과 쓰기/지우기 시험할 portion을 설계자(또는 신뢰성담당자)가 직접 지정해야 합니다. Retention Test 는 스펙마다 약간의 차이가 있는데, JEDEC의 경우 HTSL과 LTOL을 사용하는 반면, AEC의 경우 HTOL과 HTSL을 사용합니다.
DATA EXAMPLE
기술 적용 사례
관련 시험 규격
- JESD22-A117
- AEC-A100-005