EOS
장비소개Electrical Overstess
KT-200SG / 카스트엔지니어링, 2651A/Keithly
기술 소개
EOS(Electrical Overstess)는 반도체 및 회로의 Specification Limit을 초과하는 과도한 전기적인스트레스(voltage, current,power,etc)에 의해 성능을 저하시키거나 영구적인 불량을 유발하는 반도체의 주요불량원인이다. IEC61000-4-5 규격파형 및 DC Pulse을 반도체 및 전자부품에 인가하여 EOS 내성을 평가 할수 있다.
기술 적용
반도체(메모리, System IC), Discrete IC, 수동소자 Level EOS(Electrical Overstress) 시험
장비
KT-200SG 장비로는 IEC61000-4-5 규격 파형을 반도체 및 전자부품에 인가하여 EOS내성을 평가 가능하고, 2651A (High Power Source Meter)로는 비표준 파형의 전류 또는 전압을 원하는 조건으로 인가하여 전기적스트레에 대한 내성을 평가 가능하며, 다양한 불량재현시험에도 활용 가능하다.
- Equipment
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Voltage Range : 1V to Max. 200V
Waveform :
1.2 / 50 ㎲ (OCV), 8 / 20 ㎲(SCC)
2.0 / 50 ㎲ (OCV)
10 / 100 ㎲ (OCV)
10 / 200 ㎲ (OCV)
- Equipment
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Current / Voltage Range :
Source or sink up to ±40V and ±50A
기술 적용 사례
불량재현 평가 사례
Stand Waveform
Contact Point
담당자- • TEL.
- 031-546-7549
- • E-mail.
- dongsung.kim@qrtkr.com