CDM
장비소개Charged Device Model
Orion3 / Thermo Fisher Scientific
기술 소개
반도체 및 전자부품이 마찰, 접촉 등으로 인해 해당 부품에 전하가 축적(충전)되고 충전된 부품이 도체와 접촉되었을대 급격한 방전이 일어나는 현상을 모델링한 시험이다. ESD는 No charge or No discharge 환경만 구현 할수 있다면 아무런 불량을 유발하지 않는다. 하지만 정전기를 원천 제거하는 것은 불가능하므로 IC 및 전자부품의 내성 수준을 평가해야 한다.
기술 적용
반도체(메모리, System IC), Discrete IC, 수동소자 Level ESD(CDM) 시험, 보드레벨 CBM (Charged Board Model)시험 가능
장비
HBM & MM 장비
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- Equipment
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Max. Voltage Level : 2000V
Max. Test Area : 10.16 x 10.16cm
CDM Method : Field Induced Charge, Direct Charge
Monitoring and Controlling N2 flow
Reporting humidity & temperature levels
기술 적용 사례
Automated Waveform Measurement & Analysis
Simulator Circuit & Stand Waveform
관련 시험 규격
Items |
Consumer / Industrial |
Automotive |
|---|---|---|
CDM |
JS-002-2018 |
• AEC-Q100-011 • AEC-Q101-005 |
Contact Point
담당자
김동성 책임연구원
- • TEL.
- 031-546-7549
- • E-mail.
- dongsung.kim@qrtkr.com