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등가속도 시험은 공간이 있는 반도체 부품에 대해 원심력에 의한 스트레스로부터 제품의 물리적인 영향을 평가하기 위한 시험 입니다. 본 시험은 제품이 충격이나 진동 시험에서 일부 검출 되지 않는 구조 및 기계적 취약점을 확인 하기 위해 설계 된 가속 평가 시험 입니다. 시험을 통해 제품의 패키지, 내부 금속 및 리드, 다이와 서브스트레이트간의 기계적 특성 한계를 결정하기 위해 높은 수준의 스트레스를 인가하는 파괴시험으로 적용 될 수 있습니다. 해당 평가는 적절한 스트레스 수준으로 조정하여 보통 제품보다 낮은 수준의 기계적 특성을 가진 제품들을 사전 제거하는 방법으로 사용 될 수 있으며, 특히 사람의 안전과 관련 된 자동차 부품에서는 필수 평가 항목으로 인식 되고 있습니다.

차량 및 미국 국방 Component Level 제품의 회전 및 등가속도 평가.