QRT RF 분석 시스템 Q-LTS-RF
RF 수명평가 시스템은, RF 무선통신용 소자의 수명을 평가하기 위한
RF-HTOL(고온동작시험)과
RF-ALT(가속수명시험)을 지원합니다.
시스템은 모든 DUTs (Device Under Tests)에 개별적인 RF 스트레스를 인가할 수 있고, 각 DUT에서 RF 매개변수의 열화 특성을 실시간으로 검출합니다. 유사한 RF 수명 시험을 위해서, 더 이상 복잡한 시험 구성으로 시간을 허비할 필요가 없습니다. RF검출을 위해서, 별도의 계측 장비 또한 요구되지 않습니다.
시스템은 각 DUT에 큰 온도 챔버 없이 열 스트레스를 공급해 줍니다.
각 DUT에는 다양한 스트레스 시험 조건이 동시에 적용됩니다. 시스템에서 모든 시험 조건 및 제어 기능들이 실시간으로 자동적으로 관리됩니다.
시스템의 모든 기능은 원격으로 제어할 수 있으며 전체 테스트 절차를
자동화할 수 있습니다.
QRT에서 자체 개발된 수명 분석 소프트웨어가 함께 제공되며,
시스템은 RF 수명 테스트 동안 수집된 데이터로부터 자동으로 실사용 조건의 수명 분석을 실시합니다.
시스템 구조
-
동적 가속 시스템
RF 발생 유닛(RGU) :
DUT별 RF 입력 전력 공급RF 검출 유닛(RDU) :
DUT별 RF 출력 전력 검출 -
정적 가속 시스템
정적 가속 유닛(SAU) :
DUT별 DC 전력 공급 및 온도 제어 -
시스템 운영 SW
DUT별 스트레스 조절
RF 보정
실시간 모니터링
수명 분석 SW
데이터 분류
최적의 분포 함수
활성화 에너지
사용자 수명 추정
Main Application
Specification
| Specification List | Unit | Q-LTS-RF | Remark |
|---|---|---|---|
| 스트레스 공급인자 |
- | RF , Temperature, Voltage, Current | |
| RF 주파수 | GHz | 0.6~6 27~32 |
고객 맞춤형 |
| RGU 출력 (DUT 입력) | dBm | Typ. +33 | |
| RGU 출력 정확성 |
dB | ±0.5 | |
| RF 고조파 | dBc | Max. -25 | |
| RF 동작 범위 | dB | Min. 25 | |
| 모니터링 매개변수 |
- | RF input & output Power, Temperature, Voltage, Current |
DUT별 고객 맞춤형 |
| 검출 정확성 | dB | ±0.3 | |
| 검출 범위 (DUT 출력) | dBm | Up to 43 | DUT별 |
| 동시 사용 DUTs | EA. | 40 Scalable | 시스템 별 |
| 온도 제어 범위 온도 제어 정확성 |
°C | 50~200 +/-2 |
DUT별 조절 (Chamber Less) |
| 온도 변화율 | °C/min | Min. 3 | |
| 전압 조절 범위 | V | Up to 28 Up to 50 Fixed -10 |
DUT별 5 CHs |
| 공급 전력 | W | Typ. 100 | DUT별 |
| 수명 예측 소프트웨어 |
- | 자동 수명 추정 소프트웨어 |
고객 맞춤형 |
| - | 열화 경향에 따른 데이터 분류 데이터 서버 연동 열화 기준에 따른 DUT 고장 수명 자동 확보 최적의 분포 추천 자동 사용조건 수명 추정 활성화 에너지 도출 가속 계수 산출 스트레스에 따른 가속 모형 생성 보증 수명 산출 자동 보고서 생성 |
고객 맞춤형 |