Latch-up Test
장비소개Latch-up Test
MK2.SE / Thermo Fisher Scientific, MK4.TE / Thermo Fisher Scientific
기술 소개
Latch-up 시험 : CMOS와 같은 소자는 불가피하게 p-n-p-n 구조를 이루게 되고, 이러한 구조에 의해 형성된 기생(parasitic) Thyristor가 어떠한 전기적 영향에 의해 동작하여 전류가 도통되고 증폭 되어 소자를 파괴하는 현상을 모델링한 시험 방법이다.
기술 적용
반도체(메모리, System IC), Discrete IC, 수동소자 Level ESD(HBM, MM) 시험
반도체 (메모리, System IC) Level Latch-up 시험
Auto IV curve & Spot Measurement
장비
Latch-up Test 장비
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- Equipment
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Test Pin count : 2304(MK4), 768(MK2)
Latch-up Vector : 256k depth/20MHz(MK4),
64k depth/10MHz(MK2)Power Supplies : 8 separate V/I(MK4),
6 separate V/I(MK2)
기술 적용 사례
관련 시험 규격
Items |
Consumer / Industrial |
Automotive |
|---|---|---|
Latch-up |
JESD78E |
• AEC-Q100-004 |
Contact Point
담당자
김동성 책임연구원
- • TEL.
- 031-546-7549
- • E-mail.
- dongsung.kim@qrtkr.com