RF High Temperature Operating Life Test
장비소개RF 제품 고온동작 수명시험
RF High Temperature Operating Life Test
큐알티주식회사는 광대역 고출력 전력증폭기를 통해 다양한 주파수와 파워에서의 RF인가 시험을 지원합니다.
기술 소개
RF 제품 고온동작 수명시험이란?
일반적으로 반도체의 수명시험은 고온환경에서 제품을 동작시키는 HTOL (JESD22-A108)시험입니다. 일반적인 반도체 제품은 전기신호를 이용해서 동작하는데 반해, RF 제품은 동작을 위한 input으로 RF신호를 사용합니다. 큐알티주식회사는 광대역 고출력 전력증폭기를 통해 다양한 주파수와 파워에서의 RF인가 시험을 지원합니다. 또한 Chip Operation 전문가의 컨설팅을 통해 Dynamic 동작 조건을 구현과 동시에 모니터링 시스템을 통해 chip 상태를 실시간으로 확인할 수 있습니다.
스트레스시험 뿐만 아니라 주요 RF 특정도 직접 측정하여 평가 제품의 Pass/Fail 여부를 즉시 확인할 수 있습니다.
RF –Measurement Item
- S parameter analysis
- S-parameter는 주파수 분포상에서 입력 전압 대 출력 전압 비를 의미합니다. 큐알티에서는 S-parameter의 자동 제어 프로그램을 통해 다양한 조건에서의 S-parameter 측정이 가능합니다.
- IP3
- Two tone 이상의 시그널에서 발생하는 IM3 성분을 측정해 fundamental 신호 전력과 같아지는 가상의 전력점인 IP3를 측정해 드립니다.
- P1dB, P3dB
- 증폭기의 최대 선형 출력 1dB 이득 압축 지점과 Saturated Power인 P3dB를 자동 제어 프로그램을 통해 보다 정확하게 측정해 드립니다.
- Noise Figure
- 잡음지수(NF)는 어떤 시스템이나 회로 블록을 신호가 지나면서 얼마나 잡음이 추가되었는지를 나타내는 지표입니다. 고성능 계측기를 사용하여 더욱 정확한 테스트를 지원합니다.
