試験分析および装備活用支援

材料分析サービス

半導体、高分子および電子部品など、あらゆる製品に使われる素材を多様な分析装備と最新分析ツールを用いて構造および化学分析ソリューションを提供し、独創的なQRTならではの試料前処理サービスと共に、One-Stop総合分析サービスを提供しています。
  • 材料の微細構造分析および微細領域加工
  • 材料表面成分分析、分布図および深さ別成分分布測定
  • 無機化合物の定性および定量分析
  • 有機化合物の定性および定量分析

材料分析

微細構造分析
  • FE-SEM 分析
  • Dual FIB 分析
  • TEM 分析
  • EDS 分析
  • EELS 分析
表面分析
  • AFM 分析
  • TOF-SIMS 分析
  • AES 分析
  • XRD 分析
  • XPS 分析
有機分析
  • GC 分析
  • GC-MS 分析
  • FT-IR 分析
  • UV/VIS 分析
無機分析
  • ICP-OES 分析
  • ICP-MS 分析
  • XRF 分析
  • IC 分析

材料分析事例

LED Quantum Well Structure _ TEM
LED Quantum Well Structure_TEM
LED Quantum Well Structure _ TEM
Nano Cellulose_FE-SEM
LED Quantum Well Structure _ TEM
二次電池用正極材_FE-SEM
LED Quantum Well Structure _ TEM
Bump Grain Orientation_Dual FIB
半導体 Active & STI 界面成分分布 _ TEM & EELS Mapping

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Poly Grain _ AFM

Poly Grain _ AFM

Al Pad 汚染物質成分分析 _ AES

Al Pad 오염물질 성분분석 _ AES Al Pad 오염물질 성분분석 _ AES

MOSFET Back Metal 成分分析 _ XPS

MOSFET Back Metal 成分分析 _ XPS

Poly 結晶構造分析 _ XRD

Poly 結晶構造分析 _ XRD